Akıllı cep telefonunuzla bir işlem yapıyorsunuz ve işte dondu herhalde aklınıza ilk gelen bir yazılım veya donanım hatası olduğudur.

Peki ya suçlu dış uzaydan gelen kozmik dalgalarsa ? Vanderbilt Üniversitesi tarafından yeni yapılan bir araştırmada modern elektronik cihazlarda daha iyi çipler üretilirken, kozmik interferansa(karışma) daha açık hale geldiğini gösterdi.
Süpernovalar tarafından üretildiği düşünülen kozmik dalga parçacıkları uzayda ışık hızına yakın bir hızda ilerleyerek, insan için olduğu kadar, elektronik donanım için de zararlı olabiliyor. Dünyanın elektromanyetik alanı bizi bu dalgaların verebileceği en kötü zararlardan korurken, uzaydaki bir astronot bu yüksek radyasyona maruz kalabilir.

Benzer şekilde uydular ve uzay araçlar da bu kozmik dalgalara karşı uygun kalkana sahip olmalıdır. Atmosferdeki oksijen ve azor bu kozmik dalgaları nötron, piyon, pozitron ve müon gibi ikincil parçacıklara bölerler. İşte bu parçacıklara günün her saniyesinde maruz kalsak da bu radyasyon yaşayan organizmalara için zararsız olsa da , elektronik sistemlerle çakışabilir.

Yeniden başlatma problemi çözse de gelişmiş bilgisayar sistemlerinde , kozmik dalgalara karşı çok daha hassas olabilir.

Çipler Giderek Küçülüyor
“Yarı iletken üreticileri , bu problemden dolayı oldukça endişeli, çünkü gün geçtikçe transistörler ve çipler küçülüyor dijital sistemlerin kapasitesi artıyor.

Ayrıca, mikroelektronik devreler heryerde her cihazda bulunduğundan bağımlılığımız giderek artıyor, ” diyor Vanderbilt Üniversitesi’nden Bharat Bhuva. Bu par
çacıkların bazılarının enerjisi bir bit veriyi sıfırdan bire çevirmeye yetiyor. Bu nedenle bitler dönebiliyor.

 Bu oldukça küçük bir problem gibi gözükse de , örnek verilecek olursa, Belçika’da oy verme makinesi 2003’de 4000 oyu hatalı saydı, 2008’de ise A330 otopilotu bozuldu ve uçak birden dalışa geçti.(119 kişi yaralandı). İşte bu gibi teknik problemlerin kozmik ışınların neden olduğu bit dönüşlerinden kaynaklanabileceği belirtiliyor.
Bir bitteki değişim yazılım hatası ya da donanım kusuru olabilse de sorunu bulmak için bütün diğer olasılıkları elemeniz gerekiyor. SEU (single event upset ) tek olay hatasından kaynaklanan hataları test ettiler. Test için birkaç jenerasyon transistörü nötron ışımasına tabi tuttular.
Tekli transistörlerde (individual transistor)daha az SEU gerçekleşirken, her nesilde giderek daha küçük işlemciler kullanıldığından bunlarda daha fazla SEU gerçekleşti. Bugün çiplerde milyarlarca transistör kullanıldığından giderek kozmik ışınlara daha açık hale geliyor.
Özellikle askeri ve uzay projelerinde bu daha çok önem kazanıyor. Ayrıca son yıllarda geliştirilen 3d çip mimarisi de sistemleri SEU’ya karşı daha savunmasız olmasına neden oluyor. Yine de aynı iki çipin aynı anda, aynı hatayı vermesinin çok düşük bir olasılık olduğunu belirtiliyor.
Kaynak Star